1. Нет, не достаточно. Можно ориентироваться на них, но диски могут вылетать и с идеальным смартом.
2.
www.ixbt.com/storage/hdd-smart-testing.shtml
По опыту, на raw read error rate и Seek Error Rate можно особо не смотреть, только если сам смарт на них ругается.
Самые критичные: 05, 184, 187, 196, 197, 198, 200
Стоит следить за температурой (чтобы не превышала допустимый предел по документации конкретной модели) и 199
3. У SAS как правило есть только упрощенный смарт.
Elements in grown defect list - ненулевое значение не очень хорошо, но не критично (потому что мог нормально отработать алгоритм исправления ошибок и это просто переназначенный сектор).
Errors Corrected by delayed - так же, не очень хорошо.
Total Errors - определенно плохо.